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Workshop Teorico Pratico – Caratterizzazione XPS su Sistema VersaProbe di Physical Electronics

5 Ottobre, 2016

UNIVERSITA’ DI CATANIA
Via Santa Sofia 96 – Aula 1 Torre Est
Mercoledì 5 Ottobre 2016

Lo scopo del workshop è presentare le tecniche di analisi delle superfici tramite XPS. La seconda parte del workshop inoltre comprenderà una parte pratica di analisi dei campioni.

La partecipazione al workshop è GRATUITA ma è necessariA la REGISTRAZIONE in quanto il numero di posti disponibili è limitato

PROGRAMMA

09.15 – 09.30 – Saluti di benvenuto
Prof. Stefania Stefani, Presidente Brit
Prof. Daniele Condorelli, Responsabile scientifico del Laboratorio Biotech
Prof. Giuseppe Compagnini, Responsabile Scientifico del Laboratorio Nanotech

09.30 – 09.45 – Introduzione
Prof. Antonino Gulino, Università degli Studi di Catania
Ing. Matteo Fedele, 2M Strumenti

09.45 – 11.00 – “Introduction to XPS and the unique Scanning XPS Microprobe”
Wolfgang Betz, PHI Europe Sales and Marketing Manager

11.00- 11.30 – Coffee Break 

11.30 – 12.30 – “Scanning XPS Microprobe for Diverse Materials Surface Analysis”
Dr. Ben W. Schmidt, Application Scientist, PHI USA

12.30 -14.00 – Pranzo

14.00 –  16.00 – Prove pratiche sul XPS VersaProbe II – Sessione 1

16.30 – 18-30 – Prove pratiche sul XPS VersaProbe II – Sessione 2
 
Le sessioni pratiche sono pensate per poter mostrare a piccoli gruppi di ricercatori come lavora il XPS.
(possibilmente non più di 4-5) 

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Data:
5 Ottobre, 2016

Luogo

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5 Ottobre, 2016

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