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novembre 2016

Workshop ‘Nuovi Sviluppi Sui Processi di Etching e Deposizione Assistiti da Plasma’

24 novembre, 2016

2M Strumenti in collaborazione con Sentech organizza il Workshop 'Nuovi Sviluppi Sui Processi di Etching e Deposizione Assistiti da Plasma' presso il Politecnico di Torino. GIOVEDI’ 24 NOVEMBRE 2016, H. 9.00 Politecnico di Torino Aula Perucca, DISAT, Ingresso 1 PROGRAMMA: 9:00 Registration 9:30 Welcome to the Workshop - Presentation of 2M Strumenti and SENTECH  9:45 SENTECH – Experts of plasma process technology and thin film metrology New developments at SENTECH Dr. Bernd Gruska, International Sales and Marketing Manager 10:30 Layer…

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dicembre 2016

Materials 2016

12 dicembre, 2016 @ 8:00 am - 16 dicembre, 2016 @ 5:00 pm
Sheraton Catania

Materials 2016 will be the first Italian National Conference on Materials Science and Technology. It will be held from December 12th to 16th, 2016 in Aci Castello, Sheraton Catania Hotel. This conference represents a great opportunity to gather the large community of scientists involved in materials science and related applications, working at Universities and Research Institutions. This first edition is promoted by the Physics and Chemistry Departments of the National Research Council of Italy, with the support of the Italian…

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febbraio 2017

AFM-IR Workshop

febbraio 14
Università di Roma Sapienza,
Dipartimento di Fisica - Fermi
Roma, Italia
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MARTEDI 14 FEBBRAIO 2017, 9:00 - 17:00 Sponsored by Anasys Instruments Instruments in association with 2M Strumenti and Sapienza University of Rome Hosted by Prof. Alessandro Nucara - Department of Physics, Sapienza University of Rome Sapienza University of Rome Physics Department, Building FERMI (CU033) P.le Aldo Moro, 2 00185 Rome Anasys Instruments, 2M Strumenti and Sapienza University of Rome would like to invite you to the AFM-IR Workshop at the Physics Department, Sapienza University of Rome. The workshop will provide…

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maggio 2017

Presentazione microPREP GATAN

maggio 29
ST Microelectronics,
Agrate, Italia

Preparativa avanzata per microscopia elettronica SEM e TEM GATAN microPREP Laser Ablation System 2M Strumenti in collaborazione con Gatan organizza la presentazione del nuovo strumento microPREP High throughput laser- based microdiagnostics sample preparation

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Presentazione microPREP GATAN

maggio 30
C.N.R. Area della ricerca,
Bologna, Italia
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Preparativa avanzata per microscopia elettronica SEM e TEM GATAN microPREP Laser Ablation System 2M Strumenti in collaborazione con Gatan organizza la presentazione del nuovo strumento microPREP High throughput laser- based microdiagnostics sample preparation

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Presentazione microPREP GATAN

maggio 31
Lfoundry,
Avezzano, Italia

Preparativa avanzata per microscopia elettronica SEM e TEM GATAN microPREP Laser Ablation System 2M Strumenti in collaborazione con Gatan organizza la presentazione del nuovo strumento microPREP High throughput laser- based microdiagnostics sample preparation

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giugno 2017

ISEC 2017 Giugno12-16 Sorrento

giugno 12 @ 9:00 am - giugno 16 @ 5:00 pm
Gran Hotel Vesuvio,
Via Nastro Verde 7
Sorrento, Italia
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The ISEC conference series has established itself as the leading specialized meeting on superconductive electronics. The series initiated in 1987 in Tokyo, Japan, and is organized every two years in USA, Europe or Japan. In particular, in this edition further attention will be devoted to explore the integration of superconductivity with new electronics.

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settembre 2017

2nd Annual European Forum on Nanoscale IR Spectroscopy

settembre 13 - settembre 14
Vrije Universiteit Brussel,
Brussels, Belgio

EFNS 2017 flyerAnasys Instruments is proud to co-host the second annual EFNS with the Research Group Electrochemical and Surface Engineering (SURF) of Vrije Universiteit Brussel (website here). Conference topics will address the impact of nanoscale IR spectroscopy in materials science, life sciences, polymeric studies and beyond.

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PHI WEBINAR: TOF-SIMS Molecular Identification by Tandem MS Imaging

settembre 21

FREE LIVE WEBINAR Thursday, September 21 8:30am (Chicago Daylight time) Physical Electronics is hosting the webinar on TOF-SIMS Molecular Identification by Tandem MS Imaging. Parallel Imaging MS/MS, allows secondary ions of choice to be extracted from the TOF-SIMS data stream for fragmentation and analysis in a separate TOF analyzer. This provides for unambiguous peak identification and parallel tandem MS imaging capability. PRESENTER Dr. Greg Fisher, Principle Scientist, Physical Electronics WHEN Thursday, September 21, 8:30am (Chicago Daylight Time) Please click here…

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NANOINNOVATION 2017 26-29 Settembre Roma

settembre 26 @ 8:00 am - settembre 29 @ 5:00 pm
Chiostro di San Gallo co Facoltà di Ingegneria Industriale e civile Università la Sapienza,
Via Eudossiana
Roma, Italia
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NanoInnovation aims to represent the reference national event for the wide and multidisciplinary community involved in the development of nanotechnologies and in their integration with other enabling technologies (KETs) in all application fields.

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