Home
Chi Siamo
Prodotti
Measure Samples
SEM
SEM – Catodoluminescenza
SEM – Micromanipolatori
SEM – Serial Block Imaging
SEM – Stages Dedicati
TEM
TEM – Catodoluminescenza
TEM – GIF Hardware e Software
TEM – Portacampioni
TEM – Telecamere
Stand Alone
In Aria – Caratterizzazione Ottica
In Aria – Microscopi a Forza Atomica
In Aria – Misura effetto Hall a T ambiente
In Aria – Riflettometri e Ellissometri
In Aria – Simulatori Solari – IQE/EQE
In Aria – Sistemi nanoIR e nanoTA
In Vuoto – Misura 4 punte, Hall, Seebeck e stage raffreddati da 80 K a 730 K
In Vuoto – Spettrometri XPS, AES, TOF-SIMS
Process Samples
Alta Temperatura e Atmosfera Controllata
Alta Temperatura – Forni & Stufe
Atmosfera Controllata – Glove Box, Isolatori e Flow Box
Alta Temperatura – Rapid Thermal Processing
Sample Preparation
Sample Preparation – Per SEM
Sample Preparation – Per TEM
Sample Preparation – Taglio e Lappatura
Nanotech
Nanotech – Attivazione superficiale e Plasma cleaning
Nanotech – Microdispensing e inkjet printing
Nanotech – Thermal nanoimprint
Nanotech – Sistemi PVD
Nanotech – Sistemi per Etching Reattivo
Nanotech – Sistemi CVD e ALD
Accessories and Consumables
Consumables
Materiale per SEM e TEM
Pinzette
Materiale per Taglio e Lappatura
Lame di diamante
Materiale per evaporazione, targets e sputtering
Punte ed accessori per AFM
Accessories
Componenti per HV ed UHV, Flange CF, KF, ISO
Componenti per la caratterizzazione ottica
Tavoli Antivibranti
Dispositivi di cancellazione e/o attenuazione campi magnetici esterni
Sistemi di raffreddamento a circuito chiuso
Generatori di azoto liquido
MFC, Vaporizzatori, Valvole
Micromanipolatori
News
Contatti
Eventi
Cerca
Menu
Twitter
Linkedin
Nuova Ricerca
Se non siete soddisfatti dei risultati conseguiti per favore fare una nuova ricerca
Scorrere verso l’alto
Questo sito raccoglie dati statistici anonimi sulla navigazione mediante cookie nel rispetto della privacy.
Accetta
Leggi di più
Privacy & Cookies Policy